| 5450 | 5451 | ||
| 显示数字位数 | 5.5 位数字 | ||
| 当前测量 | 测量方法 |
可变反馈 |
|
| 测量范围 | 1 fA 至 20 mA | ||
| 电阻测量 | 测量方法 | 电压施加方法 | |
| 测量范围 |
10Ω至 3 × 10¹⁷Ω |
||
| 直流电源 | 发生范围 | ±1000 伏 | |
| 解决 | 1毫伏 | ||
| 1000V 浮地测量 |
○(仅限 5450) |
||
| 采样率 | 每秒 1000 次 | ||
| 序列功能 | 〇 | ||
| 界面 | GPIB、USB | ||
| BCD 输出 | △(工厂选项) | ||
| 处理程序 |
〇 |
||
| D/A 输出 | 〇 | ||
对于超高电阻和微电流测量,根据应用的不同,需要进行各种优化设置,包括放大器增益、积分时间、输入电阻,以及(在表面电阻率和体积电阻率测量中)
电极系数。5450/5451 内置 10 种预设条件,例如使用附件进行体积电阻率/表面电阻率测量、用于微电流测量的皮安表设置以及电容器漏电流测量。这省去了繁琐的测量条件设置;只需选择适合您应用的设置即可立即开始测量。
当然,它还内置了“用户参数设置”,用于自定义测量条件。
[应用程序特定预设项目列表]
| 应用 | 解释 | |
| 快速电流测量 | 它被用作皮安表。这种设置可以对微小电流进行高速测量。 | |
| 红外测量 |
小于 0.04 μF | 此设置适用于测量电容小于 0.04 μF 的电容器的内阻。 |
| 0.04 μF 至 4 μF | 此设置适用于测量电容范围为 0.04 μF 至 4 μF 的电容器的红外光谱。 | |
| 电容超过 4 μF | 此设置适用于对电容超过 4 μF 的电容器进行 IR 测量。 | |
| JIS测量 | K6911 |
此程序适用于Φ50电极。 |
| K6723 | 此程序适用于Φ70电极。 程序2运行后,1分钟内将显示体积电阻率或表面电阻率。需要设置体积/表面电阻率、样品厚度和生成的电压值。 |
|
| C2170 | 此程序适用于Φ30.5电极。 程序序列2将运行,在10V电压下运行15秒后显示体积电阻率或表面电阻率。需要设置体积/表面电阻率和样品厚度。 |
|
| 12707 液态电极 | 此设置适用于测量液晶材料的体积电阻率。 程序序列2将运行,1分钟后将显示5V电压下的体积电阻率。 |
|
| 绝缘电阻测量 | 此设置允许在无需屏蔽的情况下测量高阻材料,从而实现高抗噪性。需要设置生成的电压。 | |
| 输入电阻 1 kΩ | 无论测量范围如何,输入电阻均为 1 kΩ。 | |
山金工业(深圳)有限公司版权所有
备案号:粤ICP备2025383973号