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直发 AE-MIC爱米克 AE-365E 高速，微量至大量 MLCC 测试

适用于芯片电容器、MELF电容器、径向电容器和
轴向电容器的卷带机。
超高速：1毫秒。[典型值]（测量时间）
通过在 5V 电压下使用 2pF/20pF 量程进行测量，可以大大提高微小电容的稳定性。
异常测量检测功能即使在 2 端（4 端）测量期间也能检测出探头接触不良的情况。
4 端子触点检查：可在测量/关闭后选择。
测量频率：1kHz/120Hz±0.1%（正弦波形）
可在串联等效电路和并联等效电路之间切换。
恒压测量（某些量程不支持）
可以测量tanδ（不支持2pF范围）。
3 1/2 位（1999 年）数字显示，内置比较器功能，HI/GO/LO 输出。
RS-232C 接口和打印机输出（符合 Centronics 标准）是标准功能（GP-IB 是可选的）。
为了减少探针接触磨损，测量电流是间歇施加的[120μF/1.2mF 范围]。
即使在测量过程中，打印机也会输出测量值、统计数据、日期和时间等数值。
测量范围和基本精度（D < 0.1，环境温度 23°C ± 5°C）

所属分类：
AE-MIC 爱米克
发布时间： 2026-06-17

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详细介绍

测量范围	测量范围	最低分辨率	准确性	测量电压
2pF	0.000pF 至 1.999pF	0.001pF	rdg ±1.0% ±5digitxa	1kHz，1V±5%[rms]	1kHz，5V±5V% [rms]
20pF	0.00pF 至 19.99pF	0.01pF	读数的±0.25% ±3位数 xa		1kHz，5V±5V% [rms]
200pF	0.0pF 至 199.9pF	0.1pF	读数的±0.2% ±2 位 x a		——
2nF	0.000nF 至 1.999nF	0.001nF	读数的±0.2% ±2个字		——
20nF	0.00nF 至 19.99nF	0.01nF			——
200nF	0.0nF 至 199.9nF	0.1nF			——
2μF	0.000μF 至 1.999μF	0.001μF			120Hz，0.5V±5% [rms]
20μF	0.00μF 至 19.99μF	0.01μF	rdg ±0.3% ±3digitxa		120Hz，0.5V±5% [rms]
120μF	0.0μF 至 119.9μF	0.1μF	rdg ±1.0% ±5digitxa	1kHz，1V +5% 至 -15% [rms]	——
200μF	0.0μF 至 199.9μF	0.1μF	rdg ±0.5% ±3digitxa	——	120Hz，0.5V±5% [rms]
1.2毫法	0.000mF 至 1.199mF	0.001毫法	rdg ±1.5% ±5digitxa	——	120Hz，0.5V+5% ~ 5% ~ -25% [rms]

*0.1<d<1の場合は、25d 100(%)が上記確度に加算されます。="" α：fast="" 時２(2pf　レンジ="" 1vの時　α="10)" slow="" 時(2pf　レンジ="" <="" div=""></d<1の場合は、25d>

测量方法	3/5 端子测量方法 [每个量程可选]
测量频率	120Hz/1kHz±0.1%，正弦波形
测量信号输出kinbeat	约1Ω
杂散电容校正范围	约30pF
全尺寸和零温度系数	在±100 ppm/℃范围内
测量温度	【自由运行循环】快：约 1-5 次/秒慢：快 x N（N：平均设定次数）
测量温度	[测量期间信号[快速]] 1毫秒。[最快速度]
比较器设置范围	电容：高电平和低电平均为 1999 [在 120μF/1.2mF 范围内，高电平和低电平均为 1199] tanσ：99.9%
使用环境	温度：0°C 至 +50°C，湿度：85% 或以下
所需功率	交流85V至265V，50至60Hz，约50VA
外部尺寸	333（宽）×99（高）×300（深）毫米（不含橡胶脚垫等突出部分。）
重量	约4公斤