JEM-ACE200F是一款电子显微镜，它与一些系统兼容，这些系统允许操作人员通过创建操作流程方案来获取数据，而无需直接操作电子显微镜。它
融合了高端电子显微镜JEM-ARM200F和通用型场发射透射电子显微镜JEM-F200的硬件技术，实现了高稳定性和高分辨率，并以全新改进的设计亮相。

特征
主平台
可安装Cs校正装置，CFEG

高速、高精度平台：速度是现有电机驱动控制的三倍，并且能够像压电驱动控制一样进行精细的运动调节。

操作简便
即使是操作TEM经验不多的人也能直观地使用它。

该系统最大限度地减少了控制面板的使用，允许用户通过依次点击屏幕上的按钮来获取最终图像。
也可以使用鼠标控制对焦调整和其他设置。
可与Gatan相机集成。
自动调节功能

自动对焦、自动​​校正像散、自动样品高度调节、自动光束居中、自动定向等。
自动数据采集功能
基于食谱可以实现自动数据采集。

透射电镜图像、扫描透射电镜图像、元素分布图
支持在网格上进行多样本采样。
与测量软件连接
可以在透射电镜侧对每个设定的放大倍数进行放大倍数校准。

可以自动测量从多个 JEM-ACE200F 设备获取的数据。
遥控
相邻房间操作

远程操作和同时监控多个地点（取决于网络环境）

在与多家企业洽谈的同时，可以进行同步观察。
通过镜头筒外壳提高了环境耐受性。
有助于抑制噪音、气流和室内温度变化。

可以通过在内墙上安装吸音材料来进一步降低噪音。


从分析仪器到分析工具

- 实现 STEM/TEM 分析自动化，以帮助提高工艺效率并持续增强质量控制。