JEM-Z200MF是一款配备无磁场物镜的电子显微镜，无需对样品施加强磁场即可实现高分辨率观察。它通过集成能够校正高阶像差的收集系统，实现了原子级分辨率的观察。

特征
无磁场物镜
JEM-Z200MF的物镜中，结构相同的透镜分别位于样品表面的上方和下方（FOL/BOL）。这些透镜产生的磁场相互抵消，从而实现零磁场和短焦距。短焦距带来极佳的低色差和稳定性，配合高阶像差校正器，可实现原子级分辨率的观测。用于控制样品z方向磁场的线圈设置在物镜的外缘。



双集电极配置
JEM-Z200MF 在照明和成像系统中都集成了收集器，从而能够进行高分辨率的 STEM/TEM 观察。

辐照系统
通过切换 STEM 收集器的输出，您可以选择适合高分辨率观察和高灵敏度 DPC 观察的光学条件。

高会聚角模式
这些光学条件适合高分辨率观测。


200 kV，MHRP 配置

会聚角：20 mrad（半角）
（使用 40 μm CL 孔径时）

低会聚角模式
这些是DPC STEM方法适用的光学条件。


200 kV，MHRP 配置

会聚角：1.0 mrad（半角）
（使用 10 μm CL 孔径时）

图像形成系统
JEM-Z200MF 允许您通过触摸按钮在 TEM 的明场和暗场观察的 CV（常规）模式和高分辨率观察的 HR（高分辨率）模式之间进行选择。