隆重推出全新原子分辨率电子显微镜“GRAND ARM™2”！

原子分辨率电子显微镜 JEM-ARM300F“GRAND ARM™”经过进一步发展，可在从低到高的各种加速电压下实现超高空间分辨率观察和高灵敏度分析。

特征

特点1：

全新研发的FHP2物镜
功能 2：

外壳盖
功能3：

ETA校正器和JEOL COSMO™快速精准像差校正
特性 4：

稳定性提升
功能 5：

OBF 系统（可选）

功能 1

新开发的物镜 FHP2
在保持FHP物镜极片在300 kV加速电压下实现超高空间分辨率观测性能的前提下，对极片形状进行了优化，以改善大面积（158 mm²）SDD的X射线引出角和探测立体角。
因此，在保持超高空间分辨率性能的同时，实现了比FHP高出两倍以上的有效X射线探测灵敏度。



GaN 的原子分辨率 HAADF/ABF 图像和 EDS 图[211]。


功能 2

外壳盖
在 GARM ARM™2 中，TEM 管被封装在一个盒式外壳内（标准配置）。这可以减少气流、室温变化和噪声等外部干扰的影响，从而提高仪器的稳定性。



功能 3

ETA校正器和JEOL COSMO™
快速精准像差校正
JEOL COSMO™ 从非晶区采集两张像差图，并测量和校正像差。因此，无需特殊样品即可快速准确地进行像差校正。