JEM-F200是一款场发射透射电子显微镜，其研发理念以节能减排为核心。它具有更高的空间分辨率和分析性能，操作系统设计简洁易用，适用于各种应用，外观时尚，能够吸引电子显微镜领域的初学者和专家，并且操作简便。

特征
视频介绍

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◆ 本页介绍 JEM-F200 多功能电子显微镜的特点和功能。

从高加速水平到低加速水平的高分辨率TEM/STEM观察。
JEM-F200 采用冷阴极场发射电子枪，有效降低了光源色差，从而实现了高分辨率观测。该电子枪具有高稳定性、高亮度和高能量分辨率（<0.33 eV）。
此外，JEOL 将自身积累和不断精进的技术融入设计，显著提升了机械和电气稳定性，从而减少了成像漂移。

高通量、高精度EDS分析
JEM-F200可同时配备两个大孔径 (100 mm²) 硅漂移探测器 (SDD)（可选），从而提供高分析灵敏度。这进一步
提高了灵敏度，实现了更快、损伤更小的 EDS 分析。此外，高速无损漂移校正功能利用 EDS 映射过程中采集的实时 STEM 图像作为漂移校正图像，实现了高效快速的测量，从而减少了 EDS 映射过程中电子束对样品造成的损伤（可选）。

高能量分辨率的EELS分析
JEM-F200 将冷阴极场发射电子枪与 EELS（可选）相结合，保证了高能量分辨率（<0.33 eV），从而实现了比肖特基场发射电子枪更详细的化学键合状态分析。

操作简便，即使是初学者也能轻松上手，毫无压力。　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
JEM-F200 拥有直观的用户界面和增强的 TEM 和 STEM 自动化功能，即使是初学者也能轻松操作。它还
配备了 SPECPORTER™ 系统，方便样品架的插入和取出，只需在正确放置样品架后按下一个开关即可安全地进行插入和取出。
此外，样品台配备了皮米级驱动装置，无需压电驱动机构即可实现皮米级的步进，从而实现了从整个样品网格到原子级图像的宽动态范围磁场移动。

自动功能
自动增益和偏移 → 自动对焦 → 自动散光校正


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从使用 FIB 进行样品制备到显微镜观察，所有步骤都能无缝完成。
双轴倾斜盒（可选）和专用TEM样品架（可选）方便TEM与FIB的连接。该倾斜盒可一键安装到专用TEM样品架上，无需在样品制备后直接操作TEM网格。

聚焦离子束加工和观察系统（FIB）

适用于可持续发展社会的透射电子显微镜。
JEM-F200 是首款标配 ECO 模式的透射电子显微镜。
该 ECO 模式可在仪器不使用时以最低能耗保持其良好状态，从而实现节能。将仪器置于 ECO 模式后，能耗可降低至使用时的约五分之一，有助于构建可持续发展的社会。
此外，它还具备定时功能，允许用户在指定的日期和时间从 ECO 模式切换回可用模式。