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日本进口 JEOL日本电子 JED-2300T 能量色散X射线光谱仪

JED-2300T 分析站是一款元素分析系统,能够无缝处理从观察到分析的所有步骤。

Analysis Station™
是一款基于“以图像为中心的观察、分析和集成系统”基本概念的 TEM/EDS 集成系统。它能够自动采集电子显微镜单元的放大倍数和加速电压等参数以及分析数据,并对数据进行管理。

特征
硅漂移探测器 (SDD) 有三种类型,探测面积分别为 30 mm²、60 mm² 和 100 mm²。探测面积越大,探测灵敏度越高。JEM-ARM200F (HRP) 与干式 SD100GV 探测器(探测面积 100 mm²)的组合,既实现了大光接收面积,又实现了高分辨率,从而能够清晰地识别硼、碳、氮和氧等轻元素。






样品:碳载膜上的氮化硼颗粒




快速元素映射
高灵敏度干式 SD100GV 检测器只需一分钟即可检测出金催化剂颗粒。

样品:负载于二氧化钛载体上的金催化剂颗粒 设备
:JEM-ARM200F + 干式 SD100GV 检测器
测量时间:约 1 分钟
探针电流:1 nA
像素数:256 x 256 像素

原子分辨率图
Sr 和 Ti 原子柱明显分离。


样品:SrTiO3<100>
仪器:JEM-ARM200F + 干式 SD100GV 检测器
测量时间:约 10 分钟
探针电流:1nA
像素数:128 x 128 像素

回放
JEOL EDS系统采集的元素分布图保存了每一帧中每个像素的光谱以及电子束图像。“回放”功能支持多方面分析,包括观察光谱和其他参数随时间的变化。测量后可以回放数据,从而观察样品的时间序列变化,这在以前是无法实现的。此外,回放过程中还可以提取任意帧。(专利申请中)


设备:JEM-2800 + 干式 SD100GV 检测器
样品:岩盐
像素数:128 x 128
提取帧数:398 帧
  • 详细介绍

规格和选项

I:标准模型,II:地图模型

  功能 *笔记
个人电脑 操作系统:Microsoft® Windows® XP 或更高版本
(支持多用户)
     
操作菜单 日语/英语      
探测器 从探测器列表中选择。      
光谱分析 定性/定量分析(TEM薄膜定量方法)  
光谱分析 视觉峰值 ID (VID)  
光谱分析 薄膜样品分析  
光谱分析 化学类型分类和QBase(定性分析数据库,光谱匹配)  
光谱分析 实时显示计数率和死时间  
报告撰写 一键报告  
报告撰写 微笑视图  
报告撰写 输出格式为 Microsoft® Word 和 PowerPoint® 格式。  
一体化 自动采集测量条件(放大倍数、加速电压)    1
帮助功能 分析助手    
分析站 从 EDS 监视器开始分析(在采集的图像上指定任意分析位置)。    
线分析 线分析/定量线分析    
线分析 广域线轮廓    
元素映射 元素分布图(3原色显示,探针跟踪)    
元素映射 高分辨率图像(电子显微镜图像和元素分布图图像均为 4096 x 3072 像素)    
元素映射 弹出式频谱    
元素映射 定量图    
元素映射 残差图    
元素映射 回放    
元素映射 散点图(二维/三维)    
  探针跟踪*(漂移校正)      2
  制定用户标准  
摇摆老鼠 两台电脑(SEM 和 EDS)共用一个鼠标和键盘进行操作。    1
离线分析 允许在设备以外的计算机上进行数据分析的授权软件。  
  • 只有当电子显微镜连接到电脑时,这才有可能实现。

  • [专利号:3950581]

  • Windows 是微软公司在美国和其他国家/地区的注册商标或商标。

应用

与 JED-2300T 相关的应用

 
本文网址 : https://www.yamakin-cn.com/product/11202.html

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