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山金现货 JEOL日本电子 高强度氮化硅(SiN)薄膜

通过使用高强度氮化硅(SiN)薄膜,可以观察到毫米级的连续宽视野。
由于不存在传统透射电镜(TEM)网格常见的由金属条造成的视野截止,因此它也非常适合观察连续切片。
使用专用固定器可以轻松进行关联光电显微镜(CLEM)成像。

特征
要使用光电子相关显微镜固定器(SiN 窗口芯片入门套件),
您需要单独购买 EM-21010 通用样品支架和 SiN 窗口芯片(每盒 20 个芯片)。
  • 详细介绍

规格和选项

SiN窗口芯片通用支架兼容固定器

  • 该固定架可容纳 SiN 窗口芯片。使用时,将其连接到通用样品支架 EM-21010 上。

SiN窗口芯片弹药容量 1
兼容的样品架 EM-21010 (SCSH) 通用样品支架
可用的 物镜孔径
 

SiN窗口芯片拆卸工具

  • 这是用于在将保持架从样品架上取下后固定保持架的夹具。

保持能力 1
兼容的保持器 SiN窗口芯片通用支架兼容固定器
 

光学显微镜固定夹

  • 这是一个用于使用光学显微镜观察带有 SiN 窗口芯片的保持器的支架。

保持能力 1
支持的结构类型 正立,倒立
兼容的保持器 SiN窗口芯片通用支架兼容固定器

适用模型

消耗品

  • SiN窗口芯片(每盒20个芯片)(部件号783131836)

  • 这是一款尺寸为 1 x 2 mm² 的氮化硅 (SiN) 窗口探针。样品放置在窗口上进行观察。提供
    单盒装(产品编号 783131836)
    和十盒装(产品编号 783131844)。*可享 10% 折扣。

应用

本文网址 : https://www.yamakin-cn.com/product/11223.html

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