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JEOL日本电子 用于 JEOL SEM 的能量色散 X 射线光谱仪

JEOL是唯一一家同时提供自主研发的EDS(电子能谱仪)和电子显微镜的制造商。JEOL
为每款SEM型号都专门开发了EDS系统。这些系统
与SEM的操作屏幕完全集成,即使在SEM工作过程中,也可以直接从观察屏幕进行分析。








下载EDS能量周期表。


您可以点击此处下载用于EDS分析的特征X射线能量表PDF文件。希望它对您的工作和研究有所帮助。





特征
集成了SEM的简易操作图标
在扫描电镜观察过程中,可以随时显示EDS光谱(实时分析)和元素分布图(实时图)。

这些图片和视频是 JCM-7000 NeoScope™ 台式扫描电子显微镜的示例。



从元素分布图自动创建合金层!轻松便捷的相分析。
从元素分布显示到化合物显示!
两种相分析方法(聚类和VCA)也支持可视化呈现!




相位分析(红色框)只需单击一下即可自动从地图数据中分离出各个相位。

聚类相分析:以相同颜色显示相同的化合物。VCA
相分析:以不同对比度显示化合物(指示成分的高/低浓度)。

默认设置为自动,但您也可以手动设置相位数。

背散射电子成分图像

聚类相位分析模式

请参阅此处的示例配置。
不要错过任何元素变化或样品形变!使用回放功能记录EDS中随时间的变化。
用例①
便于在扫描电镜中观察因加热/冷却引起的形状/元素分布变化(原位观察)!


在获取橡皮擦表面的EDS元素分布图后,将数据以140倍速回放并制作成动画。
这捕捉到了电子束照射下橡皮擦表面的形变以及元素分布的变化。

使用案例 ②
如果在元素映射过程中样本发生变形,此功能允许您仅提取和提交变形之前的数据!



使用案例③
可用于调整/估算元素映射需要计算的次数!
  • 详细介绍

规格和选项

JEOL EDS 通用规格
检测器类型:SDD(无液氮)
可检测元素:铍至铀
标准功能:定性分析、简单定量分析、元素图、图谱拼接
可选功能:相分析、回放、颗粒分析等。

  JCM-7000 JSM-IT210 JSM-IT510
JSM-IT710HR
JSM-IT810
光接收面积(mm² 30 30,60 30、60、100 30、60、100
已安装多台EDS设备。 - - 〇(最多 3 个) 〇(最多 3 个)
Gather-X探测器 - - - 〇(最多 3 个)

*粗体字表示各设备的标准规格。

凭借 Integrate 的多插入功能,即使是不均匀的样品也能进行无阴影处理,对电子束损伤敏感的样品也能更快地进行处理,并将损伤降至最低!

本文网址 : https://www.yamakin-cn.com/product/11235.html

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