JSX-1000S 是一款配备触摸屏的 X 射线荧光分析仪，方便进行元素分析。它
具备常规的定性和定量分析功能（FP 法和校准曲线法），并符合 RoHS 元素筛查要求。　
通过多种硬件和软件选件，可实现广泛的分析。


本产品符合中小企业节约劳动力投资补贴计划的条件。



无氦液态轻元素分析！低真空液态样品胶囊。

特征
X射线荧光分析原理
当样品受到X射线照射时，会产生能量与样品中所含元素相对应的X射线，
这些X射线被称为荧光X射线。该分析方法利用半导体探测器检测这些荧光X射线，并根据能量（横轴）计算元素种类，根据X射线强度（纵轴）计算元素浓度。

更多详情请参见《简易科学（X射线荧光分析原理）》。

应用领域广泛

解决方案提供
该解决方案应用程序可根据预先注册的配方自动执行所需的测量和分析。只需从解决方案应用程序列表中选择所需的解决方案图标，即可轻松获取分析结果。它可轻松分析各种领域的数据。


目前提供的解决方案
标准配置方案


可选配置方案


新开发的智能FP（基本参数）方法
新开发的智能FP（基本参数）方法无需制备标准样品即可提供高度精确的定量结果，并能自动校正残留成分和厚度。
（残留成分和厚度校正功能仅适用于有机样品。）

厚度 更正 Cr 锌 光盘 铅 自动平衡
0.5毫米 不 0.008 0.037 0.001 0.002 99.76
3.8毫米 0.012 0.109 0.004 0.006 99.64
0.5毫米 是的 0.011 0.137 0.015 0.010 99.54
3.8毫米 0.011 0.134 0.016 0.011 99.55
标准值 0.010 0.125 0.014 0.010
FP法分析结果（质量百分比）

智能助手（横岸提案）
对于 JEOL 产品而言，JSX-1000S 是理想的预检和交叉检查分析设备！


沙子中的 Zr ED XRF → SEM EDS（横口方案）
锆（Zr）存在于海滩和河流的沙子中。然而，并非所有沙子都含有锆。X
射线荧光光谱法（XRF）可以快速确定一组沙粒是否含有锆。扫描电镜能谱分析法（SEM EDS）可以用来识别含有锆的沙粒。
通过结合使用XRF和SEM EDS，可以缩小目标元素的定位范围。



视频介绍

◆点击上方方框中的播放按钮开始播放影片（约4分钟）◆

操作简单
只需放置样品并触摸屏幕即可。
分析结果显示和光谱显示之间的切换也通过触摸控制完成，让您可以像使用平板电脑或智能手机一样操作它。（也可以使用键盘和鼠标操作）。

设置和触摸操作简单

简洁直观的图形用户界面


高灵敏度和高通量
我们自主研发多年的FP（基本参数）方法无需标准样品即可实现高精度的定性和定量分析。
新近研发的自主生产SDD（硅漂移检测器）、全新设计的光学系统以及全能量范围滤光片，共同实现了高灵敏度分析。
选配样品室排气装置可进一步提高轻元素的检测灵敏度。


在整个能量范围内进行高灵敏度分析
借助多达九种类型的过滤器*和样品室排气装置，可以在整个能量范围内进行高灵敏度分析。

Cl、Cu、Mo 和 Sb 是可选元素。


痕量元素检测示例（低于 10 ppm）