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JEOL日本电子 inVia系列 显微拉曼光谱系统

雷尼绍 inVia 系列拉曼显微镜是微型拉曼光谱仪,能够分析微小物体和亚微米级的局部样品。
微型拉曼光谱法通过检测和光谱分析激光束照射物质时产生的拉曼散射光,来深入了解化学键合和晶体状态。无论化合物的晶体性质或有机/无机性质如何,它都能以高空间分辨率对各种化合物进行化学分析。该仪器采用高亮度光学系统和最新的滤光技术,能够高效检测通常被认为较弱的拉曼散射光。即使使用低功率激光器,也能实现高灵敏度测量,从而缩短分析时间并降低样品损伤的风险。
此外,其独特的高速成像测量功能还支持高速化学成像分析。

特征
高灵敏度光谱系统
该系统配备250mm焦距单色器和最新的光学滤光技术,以及可冷却至-70°C的低噪声、高灵敏度CCD检测器,能够精确捕捉微弱的拉曼信号。其高灵敏度可有效分析微小异物,同时还能缩短分析时间,降低激光照射功率,从而减少样品损伤的风险。


雷尼绍 inVia 系列拉曼显微镜光学系统布局示意图。

宽光度波数带宽
边缘滤波器用于滤除数据分析中不必要的瑞利散射光,其标准覆盖范围低至拉曼位移波数 100 cm⁻¹ 。此外,我们还提供多种可选滤波器,包括可将低波数观测带宽扩展至 50 cm⁻¹的高性能边缘滤波器,以及可将光度测量范围扩展至几cm⁻¹的 Eclipse 滤波器。您可以根据测量目标和分析目的选择合适的滤波器。

波数连续扫描光度法提供易于分析的数据。
CCD探测器一次可测量的波数范围有限,要获得宽波数范围的光谱,需要旋转作为光谱元件的光栅。传统方法中,光栅旋转需要分步进行,依次采集每个波段的光谱,然后将采集到的光谱合并成一个波形。这导致数据连接处出现不连续性,产生虚假峰值,并阻碍数据分析。然而,inVia系列产品利用其独特的同步扫描功能(一种利用旋转编码器精确控制光栅旋转并与CCD探测器信号采集同步的方法),实现了对测量波数的连续扫描,从而能够采集到无光谱不连续性的高质量数据。


同步扫描法和传统方法宽带光谱的比较。*在传统方法中,标有▲▼的区域会出现假峰。

光轴调整也是通过电脑控制自动完成的。
全自动PC控制的inVia Reflex型号支持通过PC控制多种参数,包括切换显微镜观察和拉曼测量路径、调节观察用白光亮度、调节光阑/视场光阑以及增加/减少激光照射功率。对于配备多个激光器的型号,它还支持激光路径切换和瑞利散射消除滤光片的选择。通过简单的软件设置,光谱仪即可立即完成自我优化并开始测量。此外,它还具有使用内置氖灯和标准样品(单晶硅)的自动校准功能,以及用于调整镜轴和狭缝位置的自动对准功能,从而确保始终如一的高性能,无需繁琐的手动调节。

配备高精度XYZ自动平台。
inVia Reflex 显微镜配备电动载物台,标配三轴自动载物台,其编码器由 PC 以闭环系统控制。这使得载物台能够通过鼠标操作精确移动到指定位置,并与 PC 采集的显微镜图像同步。其主要优势在于,由于没有压电驱动系统,载物台的移动范围可达数十毫米甚至更大。此外,该载物台控制系统利用了雷尼绍在定位技术方面的专业技术,能够以 0.1 µm 的最小移动步长在 XY 方向上移动,从而实现高精度的自动化映射分析。另外,测量系统中采用的共聚焦光学系统与 Z 轴载物台控制相结合,可提供精细的深度剖析功能。

支持高速拉曼成像。
inVia系列提供了一项强大的可选功能:高速拉曼光谱成像。这项革命性的超快速表面分析功能,只需几分钟到几十分钟即可完成数千至数万个点的多点成像测量,而传统的点成像方法则需要半天到一天甚至更长时间。基于拉曼光谱直接获取的化学键信息,该功能能够快速便捷地进行化学成像分析,可视化特定物质或原子团的分布。在该方法中,激发激光聚焦成一条线并照射到样品上,从而可以同时观察数十个点的拉曼光谱。此外,通过沿该线(Y轴方向)连续移动样品台,可以在激发光扫描样品的同时累积每个点的光谱。接下来,样品台沿X轴方向依次移动,即可高速测量指定平面内的整个拉曼光谱。


测绘方法示意图(左:点测绘法;右:高速测绘法)

支持最先进的3D拉曼成像分析。
作为一项全新功能,产品阵容中新增了三维映射分析功能,该功能可在所有XYZ方向上进行连续自动控制,并结合了表面分析和深度剖析。利用这项尖端分析技术,可以对透明样品进行无损三维成像。

利用三维拉曼成像(体积映射)分析方法分析树脂中白色颜料的示例。

XYZ轴切片操作图像(蓝绿色到浅蓝色:ABS树脂,红色到黄色到白色:二氧化钛)


自由旋转操作图像(仅提取ABS树脂中二氧化钛的图像)

【测量条件】
激发激光:532nm;
物镜:20倍;
分析区域:34(X)×30(Y)×60(Z)µm;
移动步长:2µm(XYZ);
测量光谱总数:8928

应用示例
拉曼成像分析示例

矿物样品的光学显微镜图像(3x3相邻视野自动拼接合成图像)


宽场无缝拉曼成像分析结果


矿物样品广域拉曼成像分析实例
(浅蓝色:橄榄石,绿色:顽火辉石,红色:石榴石)
[测量条件]
激发激光:532nm
物镜:×20
分析区域:643.2(X)×544(Y)µm
移动步长:3.2µm(XY)
测量光谱总数:34542

利用共聚焦测量进行无损深度剖析的示例。

共挤出层压薄膜深度剖析分析示例
【测量条件】
激发激光:532nm;
物镜:×50;
共焦模式:高;载物
台Z轴移动步长:0.1μm;
测量光谱总数:651
  • 详细介绍

规格和选项

模型 经由反射街 通过反射
光谱仪 单单色仪,焦距 250 毫米,光圈 f/4
可配备的激光波长 常规:可选波长 532、633、785nm(可安装多个)
可选波长:229、244、266、325、364、442、488、514、830、1064nm
*通常最多可安装 3 个(选配可安装 4 个以上)
激光功率调节 16步切换(电脑控制)
最高波数分辨率 标准:1厘米-1,可选:0.3厘米-1
光度拉曼位移波数范围
(使用标准边缘滤波器时)
100–4000 cm⁻¹(532 nm、633 nm 激发),100–3200 cm⁻¹(785 nm 激发)
检测器
(通道数)
电子冷却式
高灵敏度大尺寸CCD图像传感器
(1024 x 256)
电子冷却式
高灵敏度CCD图像传感器
(576 x 386)
显微镜物镜 ×5、×20、×50、×50(长工作距离型)、×100 ×5、×20、×50
显微镜载物台 XYZ 三轴电动平台
(可进行 PC 控制/轨迹球操作,也可进行手动操作)
手动舞台
样本观测 使用目镜进行视觉观察(配备安全机制,可在观察期间阻挡激光);
内置摄像头 + PC 捕获功能,用于显示器显示;
自动对焦;
通过在 PC 捕获图像上单击鼠标来将目标区域居中;
通过相邻视场图像的马赛克合成(蒙太奇)自动获取广角图像。
使用目镜进行视觉观察(配备安全机制,可在观察期间阻挡激光);
通过内置摄像头+PC捕获功能进行显示器显示。
地图分析、深度方向分析 点测绘(线分析、面分析)
XY测绘 测量范围:约112 x 76 mm(最大)
深度剖析(深度方向分析)
用于图像构建的信息:峰值强度、位置、半峰全宽、强度比、任意波数下的信号强度、多元分析得到的分量信号等。
三维测绘:可选
-
高速
拉曼成像测量功能
标准配置 选项 -

主要选项

  • 线聚焦高速拉曼成像测量功能(inVia Reflex 可选)

  • 高空间分辨率、高速拉曼成像测量功能。

  • 三维映射(体积映射)测量功能和专用数据分析软件

  • Spectrum 搜索软件

  • 可用于搜索的各种拉曼数据库(雷尼绍官方数据库、JEOL原始数据库、第三方数据库)

  • 用于低波数测量的高性能滤波器

  • 第二探测器(用于近红外光度测量等的InGaAs探测器)

  • 浸没式物镜

  • 样品加热/冷却池

  • 用于远程分析的光纤探针

  • 用于大样品的自由空间显微镜

本文网址 : https://www.yamakin-cn.com/product/11274.html

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