全新进口JASCO 分光NRS-5600分子光谱/拉曼显微镜
全新进口JASCO 分光NRS-5600分子光谱/拉曼显微镜
模型 | NRS-4500 |
---|---|
单色仪: | 像差校正,Czerny-Turner 接口单单色仪,f = 200 mm |
波数扫描机制: 波数范围: |
高精度直驱型(带旋转编码器) 波数重复性:±0.2cm -1 8,000~100cm -1(标准) 8,000~50cm -1(选配,需要532nm E级边缘滤光片) |
解决: | 2 cm-1/像素 (标准, 100 至 3,900 cm -1 ) 0.7 cm -1 /像素 (选配, 100 至 1,350 cm -1 , 532 nm, 2,400 gr/mm 光栅, 1,650 像素 CCD) |
光栅: | 标准:900 gr/mm 可选:2,400、1,800、1,200、600、300、150 gr/mm (最多可同时安装 4 个光栅) |
光学对准: | 自动对准(激光) 拉曼光路自动对准功能 自动切换成像镜头以优化光谱仪照明。 |
抑制滤波器切换: | 自动滤镜切换机制(最多 4 个滤镜)为标准 陷波滤镜:5 年保修 边缘滤镜:3 年保修 |
探测器 | |
探测器: | 空气冷却 Peltier CCD 检测器(最高温度 -60°C),1,650 x 200 像素,16 µm x 16 µm,可见至近红外 |
可选探测器: | 可见光高灵敏度型、NIR高灵敏度型、高分辨率型、InGaAs等。 |
激光 | |
激光: | 标准:532 nm,20 mW 可选激光器:405、442、457、488、514.5、532、633、785、1,064 nm 等。 *推荐使用红光波长激光器。 *如需使用 1,064 nm 激光器,需将检测器更换为 InGaAs 激光器。 |
可安装激光器数量: | 最多 3 个激光器(3 个内部激光器或 2 个内部激光器和 1 个外部激光器) |
显微镜 | |
样本观察: | 高分辨率CMOS相机(300万像素) |
共焦光学系统: | 标准 |
空间分辨率: | XY = 1 微米,Z = 1.5 微米 |
物镜: | 5x、20x、100x(平场消色差物镜)标配手动6位物镜旋转装置,可选配电子驱动6位物镜旋转装置。长工作距离型、近红外型、水浸式物镜也可作为选配。 |
样品阶段: | 具有自动对焦功能的自动 XYZ 平台 |
成像测量: | 选项,自动载物台成像,自动对焦,XYZ 0.1 µm 步长,3D 成像,全焦 |
激光安全分类及安全机制: | I类软件和硬件联锁机制,激光光路保护 |
宏观测量: | 可选配旋转式宏观测量单元作为本地升级选项 |
光纤探头: | 选项(手动切换) |
其他硬件选项: | 二向色镜、偏光观察、微分干涉对比、透射照明 |
软件 | |
标准程序: | 显微镜光谱测量、验证、光谱分析、成像分析、波数校正、灵敏度校正、荧光校正、JASCO 画布 |
成像程序: | 样品搜索功能、多重聚焦功能、聚焦视图、3D结构观察、峰值计算、PCA映射、折射率校正 |
修正方案: | 标准、自发荧光校正、灵敏度校正、波数校正(包括氖灯和标准样品) |
可选程序: | 间隔测量分析、热变化测量、成像分析、应力分析、碳分析 |
其他的 | |
防震台: | 选项(防震台气源:氮气或空气源,二次压力0.25~0.3MPa) |
尺寸和重量: | 主机 550 (W) x 610 (D) x 800 (H) mm, 约 80 kg - 电源 : 220 (W) x 320 (D) x 70 (H) mm, 约 3 kg AC 100 V ±10 V, AC 200 V ±20 V, 200VA |
模型 | NRS-5500 | NRS-5600 |
---|---|---|
光谱仪 | ||
光谱仪(焦距) | 像差校正的 Czerny-Turner 单色仪(f = 300 毫米) | |
扫描机制 | 高精度直驱 | |
低波数附件 | 没有任何 | 标准 (激发波长:400~800nm) |
波数范围 (拉曼位移) |
50~8,000cm -1 *1 | 10~8,000cm -1 *2 |
最大分辨率 | 1 cm -1 (532 nm 激发, 1,800 gr/mm, 1,024 像素 CCD) 0.4 cm -1可选 (532 nm 激发, 2,400 gr/mm, 2,048 像素 CCD) |
|
光栅 | 1,800 克/毫米(选项:3,600、2,400、1,200、600、300、150 克/毫米) | |
最大可安装光栅数量 | 4 |
|
紫外线升级 | 紫外激光激发工厂选配 (含紫外光学元件及紫外光观察相机)*3 |
|
拒绝滤波器 | 532 nm 陷波滤光片 (选项:用于其他激发波长的陷波滤光片和边缘滤光片) |
|
抑制滤波器切换 | 手动交换(选项:自动 8 位切换机制) | |
分束器 | 带自动切换机制的分束器 (选配:二向色镜,最多可安装 2 个二向色镜)*4 |
|
探测器 | ||
标准探测器 | 4 级珀耳帖冷却 CCD 探测器(紫外-近红外范围,1,024 × 255 像素) | |
可选探测器 | 4 级帕尔贴冷却 CCD 检测器(高分辨率,2,048 × 512 像素) 液氮冷却 InGaAs 检测器(用于 1,064 nm 激发激光,1,024 像素) |
|
双探测器切换 | 工厂选项(使用 2 个探测器时需要) | |
激光 | ||
激光 | 532nm, 50mW (选配: 244 *5 , 266 *5 , 325 *5 , 355 *5 , 442, 488, 514.5, 633, 660, 785, 1,064nm) | |
一次安装的最大激光器数量 |
内部:最多 2 个*6,外部:最多 6 个 (Vis-NIR 激光器:最多 3 个,UV 激光器:最多 3 个), 总计:最多 8 个激光器、9 个波长 |
|
显微镜 | ||
显微镜观察 | 标准配置:高分辨率内置CMOS相机 (可选配:双目、三目、偏光观察、 微分干涉、透射照明) |
|
共焦光学系统 | 标准 | |
DSF(双空间滤波器) | 标准*不适用于 UV 升级型号 | |
SRl(空间分辨率图像) | 标准*不适用于 UV 升级型号 | |
目标 | 5×、20×、100×物镜(选配:长工作 距离型、UV型、NIR型) |
|
标准样品台 | 手动 XYZ 平台(可操作距离 X:75、Y:50、Z:30 mm) | |
可选样品台 | 带操纵杆附件的 XY 自动载物台 (行程范围 X:100、Y:70 毫米,步长 0.04 微米), Z 自动载物台(行程范围 Z:30 毫米,步长 0.1 微米) |
|
SPRintS 成像 | 工厂选项(包括VertiScan、高速数据导入、 3D成像测量、Z自动载物台、自动对焦功能) |
|
自动台成像 | 工厂选项(包括成像测量、 3D成像测量、XYZ自动载物台、自动对焦功能) |
|
宏观测量单元 | 工厂选项(SPRIntS 成像系统和 宏观测量单元不能同时提供) |
|
自动对齐功能 | 激光束自动对准、拉曼散射自动对准 | |
SGI(狭缝导向图像) | 标准 | |
氖灯 | 标准(用于波数校正) | |
安全功能 | 集成样品室激光联锁、激光光路保护(符合 1 类标准) | |
软件 | ||
标准功能 | 点测量、宽光谱带测量、基本光谱数据处理功能、 搜索/功能团分析(Sadtler KnowItAll®)、宇宙射线去除、 自荧光校正、波数校正、灵敏度校正、 JASCO 画布(打印功能)、验证、用户帮助功能 |
|
SPRIntS 成像和 自动载物台成像中包含的功能 |
全焦图像、光谱、化学图像及当前测量点的实时显示、多图像图、自动对焦(支持样品图像对比度和激光对焦算法)、图像分析(包括峰高(比)、峰面积(比)、峰位移、PWHH)、PCA映射、3D成像(包括3D拉曼图像显示、3D图像切片显示) | |
可选课程 | 高通量筛选测量*7、区间测量分析、应力分析*8、碳分析、多晶硅结晶度评价、2D相关 | |
防震台*9 | 选项(防震台气源:氮气或空气源,二次压力0.25~0.3MPa) | |
尺寸 (仅主机) |
880(宽)×890(深)×670(高)毫米 | 1360(宽)×890(深)×670(高)毫米 |
重量 (仅主机) |
约200公斤 | 约240公斤 |
电源要求 | AC100V±10V、200V±20V、200VA |
模型 | NRS-7500 | NRS-7600 |
---|---|---|
光谱仪 | ||
光谱仪(焦距) | 像差校正的 Czerny-Turner 单色仪 (f = 500 mm) | |
扫描机制 | 高精度直驱 | |
低波数附件 | 没有任何 | 标准 (激发波长:400~800nm) |
波数范围 (拉曼位移) |
50~8,000cm -1 *1 | 10~8,000cm -1 *2 |
最大分辨率 | 0.7 cm -1 (532 nm 激发, 1,800 gr/mm, 1,024 像素 CCD) 0.3 cm -1可选 (532 nm 激发, 2,400 gr/mm, 2,048 像素 CCD) |
|
光栅 | 1,800 克/毫米(选项:3,600、2,400、1,200、600、300、150 克/毫米) | |
最大可安装光栅数量 | 4 | |
紫外线升级 | 紫外激光激发工厂选配 (含紫外光学元件及紫外光观察相机)*3 |
|
拒绝滤波器 | 532 nm 陷波滤光片 (选项:用于其他激发波长的陷波滤光片和边缘滤光片) |
|
抑制滤波器切换 | 手动交换(选项:自动 8 位切换机制) | |
分束器 | 带自动切换机制的分束器 (选配:二向色镜,最多可安装 2 个二向色镜)*4 |
|
探测器 | ||
标准探测器 | 4 级珀耳帖冷却 CCD 探测器(紫外-近红外范围,1,024 × 255 像素) | |
可选探测器 | 4 级帕尔贴冷却 CCD 检测器(高分辨率,2,048 × 512 像素) 液氮冷却 InGaAs 检测器(用于 1,064 nm 激发激光,1,024 像素) |
|
双探测器切换 | 工厂选项(使用 2 个探测器时需要) | |
激光 | ||
激光 | 532nm, 50mW (选配: 244 *5 , 266 *5 , 325 *5 , 355 *5 , 442, 488, 514.5, 633, 660, 785, 1064nm) | |
一次安装的最大激光器数量 |
内部:最多 2 个*6、外部:最多 6 个 (VIS-NIR 激光器:最多 3 个、UV 激光器:最多 3 个), 总计:最多 8 个激光器、9 个波长 |
|
显微镜 | ||
显微镜观察 | 标准配置:高分辨率内置CMOS相机 (可选配:双目、三目、偏光观察、 微分干涉、透射照明) |
|
共焦光学系统 | 标准 | |
DSF(双空间滤波器) | 标准*不适用于 UV 升级型号 | |
SRl(空间分辨率图像) | 标准*不适用于 UV 升级型号 | |
目标 | 5×、20×、100×物镜(选配:长工作 距离型、UV型、NIR型) |
|
标准样品台 | 手动 XYZ 平台(可操作距离 X:75、Y:50、Z:30 mm) | |
可选样品台 | 带操纵杆附件的 XY 自动载物台 (行程范围 X:100、Y:70 毫米,步长 0.04 微米), Z 自动载物台(行程范围 Z:30 毫米,步长 0.1 微米) |
|
SPRintS 成像 | 工厂选项(包括VertiScan、高速数据导入、 3D成像测量、Z自动载物台、自动对焦功能) |
|
自动台成像 | 工厂选项(包括成像测量、 3D成像测量、XYZ自动载物台、自动对焦功能) |
|
宏观测量单元 | 工厂选项(SPRIntS 成像系统和 宏观测量单元不能同时提供) |
|
自动对齐功能 | 激光束自动对准、拉曼散射自动对准 | |
SGI(狭缝导向图像) | 标准 | |
氖灯 | 标准(用于波数校正) | |
安全功能 | 集成样品室激光联锁、激光光路保护(符合 1 类标准) | |
软件 | ||
标准功能 | 点测量、宽光谱带测量、基本光谱数据处理功能、 搜索/功能团分析(Sadtler KnowItAll)、宇宙射线去除、 自发荧光校正、波数校正、灵敏度校正、 JASCO 画布(打印功能)、验证、用户帮助功能 |
|
SPRIntS 成像和 自动载物台成像中包含的功能 |
全焦图像、光谱、化学图像及当前测量点的实时显示、多图像图、自动对焦(支持样品图像对比度和激光对焦算法)、图像分析(包括峰高(比)、峰面积(比)、峰位移、PWHH)、PCA映射、3D成像(包括3D拉曼图像显示、3D图像切片显示) | |
可选课程 | 高通量筛选测量*7、区间测量分析、应力分析*8、碳分析、多晶硅结晶度评价、2D相关 | |
防震台*9 | 选项(防震台气源:氮气或空气源,二次压力0.25~0.3MPa) | |
尺寸 (仅主机) |
1060(宽)×1220(深)×670(高)毫米 | 1540(宽)×1220(深)×670(高)毫米 |
重量 (仅主机) |
约230公斤 | 约270公斤 |
电源要求 | AC100V±10V、200V±20V、200VA |
*1激发波长为 532 nm,带有标准抑制滤光片。
*2使用低波数附件时激发波长为 532 nm。
*3另需紫外激光、紫外激光边缘滤光片和紫外物镜。
*4配置紫外线升级或 SPRIntS 成像选项时,可安装一个二向色镜。同时配置紫外线升级和 SPRIntS 成像选项时,不可使用二向色镜。
*5使用紫外激光时,规格与标准型号有部分不同。
*6由于激光器的规格,激光器可能无法内部安装。
*7需要自动载物台成像选项。
*8需要 SPRIntS 成像选项或自动台面成像选项。
*9拉曼系统必须放置在防震或同等的桌子上。
山金工业(深圳)有限公司版权所有
备案号:粤ICP备2025383973号