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供应--SANKO三高 EX-731X射线荧光涂层厚度测试仪

X射线源
微焦点X射线管
靶材：钨
管电压：50kV
辐照法
顶部垂直照射法
探测器
比例计数器
可测量范围
原子序数 22 至 24：0.02 至约 20 μm；
原子序数 25 至 40：0.02 至约 30 μm；
原子序数 41 至 51：0.02 至约 70 μm；
原子序数 52 至 83：0.01 至约 10 μm
材料观察
CCD彩色相机
桌子尺寸（毫米）
240×220毫米（手动170×110毫米）
物体最大高度（毫米）
50毫米（手动80毫米、可选150毫米）
主机尺寸（毫米）
600（宽）×465（深）×754（高）

所属分类：
SANKO三高
发布时间： 2026-01-22

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详细介绍

X射线源

微焦点X射线管
靶材：钨
管电压：50kV

辐照法

顶部垂直照射法

探测器

比例计数器

可测量范围

原子序数 22 至 24：0.02 至约 20 μm；
原子序数 25 至 40：0.02 至约 30 μm；
原子序数 41 至 51：0.02 至约 70 μm；
原子序数 52 至 83：0.01 至约 10 μm

材料观察

CCD彩色相机

桌子尺寸（毫米）

240×220毫米（手动170×110毫米）

物体最大高度（毫米）

50毫米（手动80毫米、可选150毫米）

主机尺寸（毫米）

600（宽）×465（深）×754（高）

本文网址： https://www.yamakin-cn.com/product/5042.html

标签：供应--SANKO三高 EX-731X射线荧光涂层厚度测试仪

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