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日本供应 Otsuka大冢电子 SM-100P智能涂层测厚仪　　

高精度便携式薄膜测厚仪
“
我想测的时候不能立即测量”、
“测量结果因人而异”、
“测量精度差”
您在测量薄膜厚度时是否遇到过这些问题？这款智能薄膜测厚仪具备以下特点，可以解决您的问题。

・便于携带至生产现场
・它很简单，任何人都可以使用。
・即使是手持式也能进行高精度测量
・形状不规则的样品也可以进行无损测量

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发布时间： 2026-01-26

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详细介绍

规格

物品	专业版	标准
模型	SM-100P	SM-100S
测量方法	反射光谱法（光学干涉法）
测量薄膜厚度范围^*1	0.1 至 100 微米（单层）　1 至 100 微米（多层）	1至50微米（单层）
多层支撑	最多 3 层	1层
测量重复性	2.1σ 0.01μm（氧化硅薄膜 1μm）
测量点直径	直径 1 毫米或更小
数据输出格式	以文本格式导出到U盘
体型	尺寸约为 138（宽）x 198（深）x 61（高）毫米（含凸起部分）
重量	约1.1公斤
运行时间	超过 4 小时（测量期间）
电源电压/功率	AC100-240V/35VA（交流适配器输入）
保护等级	IP30/IK06