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日本原装 Otsuka大冢电子 MCPD-9800在线薄膜评估系统

我们的MCPD系列在线薄膜评估系统采用光学原理，可对薄膜的厚度、密度、颜色等进行非接触式、无损检测。
其可测量的薄膜厚度范围为65nm至92μm，涵盖了折射率为1.5时的多种厚度范围。
该系统基于光谱干涉原理，在实现高测量重复性的同时，还支持多层薄膜厚度测量。采用专有算法可实现高速实时监测，使其成为在线薄膜监测的理想选择

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发布时间： 2026-01-26

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MCPD-9800 技术规格

模型	MCPD-9800
	2285C	3095C	3683C	311C	916C
测量波长范围（nm）	220 至 850	300 至 950	360 至 830	360 至 1100	900 至 1600
薄膜厚度范围*	65纳米至35微米	65纳米至50微米	65纳米至45微米	65纳米至49微米	180纳米至92微米
薄膜厚度/反射率/透射率/延迟	〇
颜色测量	〇				×
扫描时间	5毫秒至20秒				1毫秒至10秒
斑点直径	φ1.2毫米
纤维长度	1米及以上（长度需协商确定）