聚四氟乙烯 PFA/PEEK 工艺流程单元
我们的GUIDED WAVE™ Teflon® PFA/PEEK 工艺流动池专为与金属部件不兼容的样品流（特别是 HF 半导体浴）而开发。该流动池的所有湿润部件均不含金属。只有光滑的 Teflon PFA 和蓝宝石表面与工艺流接触。外层采用耐腐蚀的 PEEK 材料，以消除任何可能来自该部件的金属污染。该流动池的其他主要部件包括 Teflon PFA 和 Kalrez® 6375UP（超纯）O 型圈。Teflon PFA/PEEK 流动池采用与我们广受欢迎的多用途流动池相同的光学元件。

耐工艺近红外流通池结构
由于没有金属部件与液流接触，这种设计非常适合即使是ppb级金属污染也会造成严重问题的工艺，例如半导体制造的蚀刻和清洗步骤。该装置在含有强酸、强碱、过氧化物或卤代化合物等极强腐蚀性液流中也能良好运行。

品质源于设计。
光谱流动池的设计需要稳定且固定的光程、严格的光学对准、高光通量、穿过样品的准直（平行）光以及平稳无湍流的流体流动。此外，流动池材料不得污染样品。GUIDED WAVE 特氟龙 PFA/PEEK 工艺流动池以简洁易维护的设计满足了所有这些要求。最终，该流动池可提供高信噪比测量、低热漂移、低流动噪声特性、吸光度精度和低振动敏感性。

操作范围
温度高达110°C
压力可达 100 psi
四种标准光程：2、5、10 和 20 毫米
可按特殊订单定制路径。
卓越的透光率
GUIDED WAVE 聚四氟乙烯/聚醚醚酮 (PFA/PEEK) 工艺流通池具有卓越的光学性能。峰值透射率保证超过 45%。这意味着更高的信号强度、更低的测量噪声和更低的检测限。该流通池可完全拆卸，并在不改变采样光程的情况下重新组装，这对于使用成熟的近红外校准模型而言至关重要。

样品接口是完整的基于光纤的分析仪系统的关键组件。为了获得最佳性能，探头必须与光谱仪和光纤电缆进行“光学匹配”。GUIDED WAVE 的特氟龙 PFA/PEEK 工艺流通池，与所有 Guided Wave 探头一样，与我们的分析仪和光纤配合使用时，可提供始终如一的高性能。我们提供多种探头设计，以满足您的工艺需求，包括SST 探头、O 型环 SST 探头、穿梭式工艺探头、高安全性流通池、多用途流通池、特氟龙流通池、挤出机探头、气体池和实验室探头。

与大多数光谱仪的通用集成
这款导波型特氟龙/聚醚醚酮（PFA/PEEK）工艺流程池 专为与任何配备SMA 905连接器的光纤系统完全集成而设计。该流程池与纤芯直径为400至600微米的光纤配合使用时，可实现最佳性能。这包括其他供应商的FT-NIR分析仪。