ENDO 系列专为狭小空间设计,重量轻,易于集成,可安装到直径小于 8 毫米的机械装置中。
ENDO 系列专为进入狭小空间而设计,可通过直线或 90° 径向光束捕捉距离、3D 形状、轮廓和直径测量值。
正常使用中,安装多个 ENDO 光学头,可同时测量圆度、平面度和缺陷检测。
ENDO 系列采用被动元件制造,使其坚固可靠,并且与所有 STIL 控制器兼容,包括 ZENITH、CCS 系列、LightMaster 和 IRIX™。
CCS系列
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模型 |
单元 |
ENDO 1/D4-R |
ENDO 0.3/D6 |
ENDO 0.3/D6-R |
ENDO 1.2/D6 |
ENDO 1.5/D6-R |
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订单代码 |
O3PS0341002 |
O3PS0361001 |
O3PS0362001 |
O3PS0361002 |
O3PS0362501 |
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|
测量范围 |
微米 |
1000 |
300 |
300 |
1200 |
1500 |
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操作距离 |
毫米 |
1 |
1.3 |
0.9 |
2.3 |
0.9 |
|
数值孔径 |
0.16 |
0.42 |
0.3 |
0.22 |
0.19 |
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最大样品倾斜度 |
° |
7.5 |
21 |
15 |
13 |
10 |
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轴向或径向模型 |
径向 |
轴向 |
径向 |
轴向 |
径向 |
|
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斑点大小 |
微米 |
13.2 |
6.4 |
5 |
15 |
19.5 |
|
横向分辨率 |
微米 |
6.5 |
3.8 |
2.5 |
7.5 |
10 |
|
光度效率 |
10 |
19 |
4 |
46 |
27 |
|
|
静电噪声 |
纳米 |
100 |
二十五 |
40 |
160 |
160 |
|
轴向分辨率 |
微米 |
0.6 |
0.15 |
0.24 |
0.96 |
0.96 |
|
最大线性误差 |
纳米 |
200 |
50 |
80 |
200 |
200 |
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最小可测量厚度 |
微米 |
300 |
20 |
50 |
140 |
200 |
|
长度 |
毫米 |
64 |
70 |
87.3 |
75.2 |
87.3 |
|
外径 |
毫米 |
4 |
6 |
6 |
6 |
6 |
|
重量 |
克 |
3.5 |
12 |
13 |
10 |
13 |
ENDO 系列有三种标准直径版本:4 毫米、6 毫米和 8 毫米。
该系列产品具有轴向和径向光束。
测量范围和光学规格适用于多种应用。
所有 ENDO 光学头均与 STIL 的 ChromaPoint 控制器兼容,包括 ZENITH、CCS 系列、IRIX™ 和 LightMaster。
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