利用色差共聚焦技术进行非接触式测量
IRIX™


Irix™ 是一系列非接触式传感器，采用色差共焦技术测量白光能够穿透的任何材料的距离和厚度。

Irix™可同时测量多达五层材料。其种类繁多的光学探头，具有不同的测量范围、机械尺寸和测量规格，并结合控制器，可满足各种应用需求。

该控制器有两种型号：一种是带有集成式 7 英寸显示屏的型号，另一种是带有用于机柜的 DIN 导轨连接的盲板型号。
Irix 控制器系列包含不同的型号（单通道和同步双通道），可与各种光学器件（Marposs 和 STIL）配合使用，以实现优异的计量性能（纳米级精度）。


Irix 按照最高质量标准制造，坚固耐用，适用于工业环境。


STIL隶属于Marposs集团，凭借其在这些技术领域20多年的经验，我们可以为众多领域提供解决方案。所有STIL共聚焦探头均与Irix™兼容。
该光学系统支持高达±45°的倾斜角度，可用于轮廓测量。
直径为 Ø4mm、Ø6mm 和 Ø8mm 的小直径规格适用于小型设备。
集成式7英寸显示屏（实验室友好型图形界面）
用于测量卷对卷领域不透明物体厚度的两个同步通道
测量与编码器同步，以实现精确的轮廓重建
3 个编码器输入（TTL 和 HTL 型号）
2 个模拟输出（0 至 10 V）
最多 32 张校准图
以 CSV 格式保存数据