随着大规模集成电路(LSI)的密度不断提高、功能日益增强,氧化膜可靠性评估作为一项与LSI可靠性密切相关的评估手段,其需求日益增长。
该系统在识别因氧化膜特性和扁平化导致的失效原因方面发挥着重要作用,同时还能评估因晶圆、玻璃基板和封装材料减薄而导致的绝缘氧化膜电阻降低。
| 电压/电流应用范围 | -50V 至 +50V / -100mA 至 +100mA |
|---|---|
| 解决 | 1 mV 增量 / 1 pA 增量 |
| 电压/电流测量范围 | -50 V 至 +50 V / -100 mA 至 +100 mA |
| SMU数量 | 36 个 SMU 单位(最多 324 个 SMU) |
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