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增值增效一站式管家服务

设备概览
从封装级到晶圆级的支持
随着晶圆直径增大、尺寸缩小、集成度提高，单晶体管的可靠性测试变得日益重要。
该系统能够测量高精度电压电流应用和场效应晶体管（FET）单晶体管的电特性及其连续变化，并将数据采集到计算机进行监控，并执行其他集中管理任务。

模型	AMM-C（封装级）	AMM-W（晶圆级）
测量程序	FET单单元晶体管测量库，48种类型
温度控制	温度箱（ESPEC 台式温度（和湿度）箱 SU-662）	全自动、半自动、手动探针（请联系我们了解制造商信息）
温度控制	温度控制范围 -60 至 +150°C	全自动、半自动、手动探针（请联系我们了解制造商信息）
SMU表现	电压±50V / 电流±100mA
DUT连接	被测设备板（6 个插座）・DIP600mil，28 引脚・DIP300mil，16 引脚选择	定位探针卡（用于高温、微电流） * 根据布局而定。