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现货 ESPEC 爱斯佩克 电源循环测试系统 QL-01

设备概览
功率器件(MOSFET、Si-IGBT、二极管)在包括绿色能源和电动汽车 (EV) 在内的众多领域已成为不可或缺的组成部分。特别是,诸如 SiC-MOSFET(碳化硅)等先进功率器件能够实现低损耗的高效功率转换,从而降低能耗并提升性能,并有助于功率器件本身及其无源元件的小型化。然而,尺寸的缩小也增加了单位表面积和单位体积的散热量,使得散热管理更加困难。这些器件存在因热量积聚而导致的散热问题,因此必须在设计初期就采取适当的散热措施,并评估器件的可靠性。
评估散热特性有助于更深入地了解器件在散热设计方面存在的问题,并有助于提高器件的长期可靠性。ESPEC

的功率循环测试系统能够对散热特性和封装退化进行精确、可重复的评估,使工程师能够识别设计风险并提高器件的可靠性。

功率循环测试包括向功率器件施加大电流,并加热器件直至其温度 (Tvj) 达到目标温度。达到目标温度后,中断大电流,并使用冷却水或空气冷却功率器件,直至其温度降至下限温度。重复此温度应力过程,以对器件施加热应力。评估整个封装结构(从引线键合到芯片,再从芯片到冷却板)的耐久性随时间推移的劣化情况。

特征
冷却系统可选配冷却水或空气冷却系统
提出了一种与设备形状和发热量相匹配的冷却夹具
专有的恒流装置,可防止在施加应力电流期间出现过冲,并控制中断期间的浪涌电压。
TCR测量α和β值的计算
测试类型:固定持续时间功率循环测试和温度目标功率循环测试(Tvj、Tc)
恒流控制和恒功率控制的应用模式
  • 详细介绍
评估设备(示例)
  • 包含 SiC-MOSFET、Si-IGBT 和二极管的分立封装或模块类型
测试模式
特征测量 TCR测量
测试类型
* 每次测试中均可选择恒流/恒功率模式
固定持续时间电源循环测试
温度目标功率循环测试(Tvj,Tc)
测试方法(标准)
测试项目 测试方法(标准) 故障模式
电源循环测试 AQG324:QL-01(PCsec)
AQG324:QL-02(PCmin)
散热路径故障;
导线连接处断开
本文网址 : https://www.yamakin-cn.com/product/6518.html

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