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供应 NISHIYAMA 西山制作所 微焦点X射线检测设备 TXV-S4090FD

测量和检测设备
微焦点X射线检测设备
东芝IT控制系统公司
这是一个微焦点X射线检测系统,可以分析小型精密零件、电子元件和其他类似物品的内部状况。
  • 详细介绍

产品规格

基本规格

模型 TXV-S4090FD TXV-S4130FD
X射线输出 90kV/200μA 130kV/300μA
X射线最小焦点尺寸 5微米
X射线探测器 FPD(平板探测器)130万像素
空间分辨率 5μm(JIMA RT RC-05)
X射线几何放大率 69次 54次
显示器放大倍率 210倍放大倍率(24英寸显示器) 160倍变焦(24英寸显示器)
样品台的最大外部尺寸 宽410×深360×高80毫米 宽410×深360×高80毫米
最大样品质量 2公斤
主机尺寸 宽1150×深1105×高1725毫米 宽1150×深1105×高1725毫米
身体素质 约950公斤 约1100公斤
泄漏剂量 1μSv/h 或更低
电源/接地 单相交流100V,1.5kVA/D级

图像分析和测量功能
测量功能:润湿性、线材流动、两点尺寸、空隙测量、BGA空隙率测量
分析功能:伪彩色、轮廓图、直方图、3D显示

本文网址 : https://www.yamakin-cn.com/product/6577.html

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