新的 MPLS-DM 版本具有 180 个测量点，呈直线排列，测量范围为 1 至 12 毫米，可实现高质量检测和新功能，标准模式下的工作频率高达 2 kHz，当传感器的测量范围缩小时，工作频率高达 6 kHz。

• 用途广泛：可测量任何反射白光的材料（例如金属、玻璃、塑料、涂层、液体）。
• 由被动元件组成的光学头，专为工业用途而设计。
• 它每秒最多可测量 360,000 个点，可以达到任何行业标准的每秒 2,000 行的运行速度。
• 如果专门用于此用途，它可以达到每秒 6,000 行、每秒超过 100 万个点的速度。
• 距离/厚度测量
• 高测量精度
• SDK 和协议命令可以轻松集成到任何系统中。
• 通过与编码器同步的测量，可以实现动态数据采集。
• 以太网通信

• 模型	单元	纳米视图	微观视图	Wireview	深度视图	监考
  订单代码		OPSTM705001	OPSTM706001	OPSTM710001	OPSTM707002	OPSTM711001
  线长	毫米	1.34	1.8	1.51	4.2	12.85
  测量范围：2 kHz	微米	120	500	900	2600	2000
  操作距离	毫米	7.4	10.1	7.8	19.5	11.3
  开口数量		0.75	0.5	0.75	0.37	0.33
  最大样品倾斜	°	43	30	46	20	17
  距角（两点之间的距离）	微米	7.5	10.1	8.5	23.5	71.8
  斑点大小	微米	2.9	3.8	3.2	8.8	27.2
  静电噪声	纳米	二十五	100	150	300	300
  轴向分辨率	微米	0.15	0.6	0.9	1.8	1.8
  最大线性误差	纳米	40	80	100	120	120
  均匀性	纳米	30	125	200	400	400
  最小可测量厚度	微米	18	50	110	250	300
  光学截面：长度	毫米	434.4	425.6	480.7	428.3	397.8
  光学部分：外径	毫米	50	50	70	60	60
  光学部分：重量	克	1700	1600	2200	2800	2550
  磁共振 4 kHz	微米	55*	235*	450*	1150*	900*
  磁共振 6 kHz	微米	30*	120*	240*	650*	500*

  控制器	MPLS-DM
  技术	彩色共聚焦
  光源	白色LED
  积分	180
  测量频率	200 Hz 至 2000 Hz （测量范围缩小时最大可达 6,000 Hz）
  距离测量	表面/第一峰/第二峰/第三峰/第四峰/最终峰
  厚度测量	5座山峰中的2座
  数字输出	千兆以太网
  同步	触发输入/输出
  其他输入和输出	编码器输入（1）
  光纤长度	5米
  工作温度	5°C 至 50°C
  储存温度	-30°C 至 70°C
  相对湿度	湿度范围：5% 至 80%（无冷凝）
  保护等级	IP 20
  合规标准	EN 61010-1，EN 61326-1
  电源	交流电 100-240 伏
  最大/典型功耗	120瓦/70瓦
  尺寸	448.9 毫米 x 184 毫米 x 497 毫米
  重量	15.2公斤