NCGR 是一种基于反射率测量技术的薄膜厚度测量仪。光波在不同表面的层间界面反射，根据多层结构和各层厚度的不同，会产生不同的波形。通过设定多层结构，该系统可以识别目标层的厚度，测量精度可达几纳米。
以往，纳米级薄膜厚度测量几乎都是在加工的下游阶段进行的。然而，如今机床控制技术的进步使得这种极高精度的测量可以直接在制造过程中完成。凭借多年的经验，马波斯公司开发了专用的探头和软件，用于各种工件的加工过程。
NCGR 厚度计是一种基于反射率测量技术的薄膜厚度计。该厚度计的设计允许以纳米级增量调节多种材料的厚度。
NCGR既可作为独立设备使用，也可连接到自动化系统并由其控制。它配备了专为恶劣环境设计的测量探头，不仅可用于最终产品检测，还可用于加工过程中的检测。
