P3CF™ 技术优化了制造工艺，并提供了一种经济高效的厚度测量解决方案，即使对于不透明材料也同样适用。我们创新的方法将厚度测量为参考平面到工件表面的距离。P3CF™ 可同时管理多达四个接触式测厚仪和两个非接触式共焦探头，从而能够在执行粗加工和精加工的多轴机床上同时进行厚度测量。这种灵活性使得非接触式技术能够应用于制造工艺的最后阶段，在这些阶段，任何操作都不允许与工件接触。

• 现在可以对任何能透射白光的材料进行非接触式厚度测量。
• 我们提供 非接触式距离测量，适用于任何需要在不接触物体的情况下进行测量的情况。
• 在处理粗加工或未抛光材料时，可提供 更可靠的接触距离测量。
• 我们提供结合接触式和非接触式测量的混合测量方法。
• 利用表面不连续性控制进行动态测量。
• 可通过SDK和协议命令轻松集成到 任何系统中。
• 利用编码器可以实现 轴位置的同步测量。