STIL 系统系列包括各种型号，每款都专门针对一种或多种应用而设计，并可在工业和实验室环境中全天候运行。

与各种 STIL 点探头配合使用时，无论在线还是离线，都能提供卓越的测量性能。

STIL 系统具有灵活性、易用性和适应环境限制的能力，提供标准或定制配置，满足短周期时间范围内非接触式测量和缺陷管理的需求，可在短短 4 秒内测量汽车玻璃和智能手机。

STIL 系统解决方案应用于各种领域，并适用于所有类型的表面反射率，包括透明、不透明、光泽和漫反射。

• 用途广泛：可测量任何能反射白光的材料（例如金属、玻璃、塑料、涂层、液体）。
• 非接触式测量适用于所有无需接触物体即可进行测量的情况。
• 高测量精度
• 可互换的STIL光学头：CL-MG/OP/ENDO/EVEREST系列
• 专为工业环境设计，不受环境光线影响。

• 模型		MIME-3M1R-115	MIME-3M3R-115
  订单代码		O3PS0600001	O3PS0700001
  XY参数	旅行	100	100
  	编码器	没有任何	可以是
  	位置精度	10微米至100毫米	1微米至100毫米
  	位置分辨率	0.1 微米	0.1 微米
  	平坦	1微米至100毫米	1微米至100毫米
  	最高速度	20 毫米/秒	20 毫米/秒
  Z参数	旅行	50	50
  	编码器	可以是	可以是
  	位置精度	1微米至100毫米	1微米至100毫米
  	位置分辨率	0.1 微米	0.1 微米
  	平坦	1微米至100毫米	1微米至100毫米
  	最高速度	5 毫米/秒	5 毫米/秒
  尺寸（长 x 深 x 高）		640 x 612 x 606	640 x 612 x 606
  重量（公斤）		120	120