无损测量
无损检测
蔡司 METROTOM
新一代X射线CT系统具有宽范围、高精度和高分辨率，不仅可以进行缺陷分析，还可以进行尺寸、形状和几何公差测量。
特征

目前最先进的X射线CT

METROTOM系列产品配备源自三坐标测量机的轴控制技术、超高精度定位平台、高分辨率平板探测器以及GOM Volume Inspect Pro（标配）/CALYPSO CT（选配）软件，能够测量尺寸、形状和几何公差，与用于观察的X射线CT系统截然不同。它提供广泛的优化解决方案，包括内部几何结构对比、复杂工业产品（如塑料模具和铝压铸件）内外尺寸的高精度测量，以及结构分析、功能检测和缺陷分析等无损检测。
标称形状与实际形状的比较，
3D CAD 模型中的尺寸差异以三维形式显示，从而可以进行视觉评估。

尺寸测量/几何公差评估：
可通过 GOM Volume Inspect Pro（标配）/CALYPSO CT（可选）的直观操作进行尺寸评估。测量精度
符合德国工业标准 VDI/VDE。如果提供包含 PMI 的 3D CAD 模型，则可以减少编程工时。

无损检测观察内部结构，
可对铝压铸件和金属铸件的空腔、塑料成型件的气泡和裂纹进行检测，并可对组件的内部和任意横截面进行检测。

高分辨率 - 高分辨率、低噪点，3K 独裁者*

METROTOM1500 225kV 配备了新型高灵敏度探测器，与传统型号相比，能够拍摄出噪声更低、更清晰的扫描图像。METROTOM 系列的输出功率也高于一般铜管电压级 X 射线系统，即使对于高密度材料也能拍摄出高对比度的图像。此外，通过使用像素合并模式（将探测器的多个像素合并为一个像素），用户可以在保持与传统 2K 探测器相同图像质量的前提下，实现高达四倍的扫描速度。换句话说，使用 2K 探测器需要约 7 分钟的扫描，使用 3K 探测器只需不到 2 分钟即可完成。这意味着在相同的扫描时间内可以进行更多的测试和测量。

*蔡司 METROTOM1500 225 kV

高精度——可追溯且高度可靠的测量结果

蔡司METROTOM高精度X射线CT系统融合了卡尔·蔡司多年积累的测量技术。其精度符合德国VDI/VDE标准。该设备不仅可以检测内部缺陷和异物，还可以测量尺寸、形状和几何公差。扫描获得的3D形状数据除了用于内部观察和测量外，还可用于校正CAD模具模型和仿真。