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激光自动对焦
MS-200-TWL-LAF
激光自动对焦系统

全新安装的激光器使采样率比之前的型号提高了约 10 倍。
它采用不受图案影响的对角激光。
非常适合检测晶圆和玻璃等高反射率样品的表面。
此外，还可选配微分干涉对比 (DIC) 和三波长观测功能。

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标签：原装 SEIWA 清和光学 MS-200-TWL-LAF 激光自动对焦系统

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