大型原子力显微镜平台
维度系列
布鲁克公司的Dimension Icon®原子力显微镜 ( AFM ) 系统为科学、技术和工业领域的纳米级研究人员提供了卓越的性能、功能和生产力。



最新的Dimension系统基于全球应用最广泛的大样品AFM平台，是一款行业领先的系统，它是基于数十年的技术创新和客户反馈而开发的。


该系统旨在提供创新的低漂移和低噪声性能，使用户能够在几分钟内（而非几小时）获得无伪影图像。Dimension Icon采用专有的ScanAsyst®自动图像优化技术，无论用户技能水平如何，都能提供更轻松、更快速、更一致的结果。它使AFM研究比以往任何时候都更容易实现，并显著提高工作效率。

Dimension FastScan AFM
扫描仪（芯片扫描法）
Icon扫描头（第五代）

我们独特的闭环传感器设计
实现了与开环传感器相当的低噪声水平，这是以前大样品/芯片扫描原子力显微镜系统无法实现的。
由于噪声基底显著降低，
接触模式下可实现原子级成像，轻敲模式下可实现亚 30 皮米级成像。
高分辨率相机和XY定位技术能够实现更快、更高效的样品导航。
它支持各种先进的可选模块，包括机械性能评估、电性能评估和扫描电化学显微镜，从而扩展了研究的可能性。
快速扫描头

通过最大限度地减少闭环扫描仪的漂移，我们实现了低于 40 pm 的极低垂直噪声水平。
可以以 125Hz 或更高的频率获取高速测量图像，以及以 20Hz 的敲击模式和 PeakForceTapping Hz 获取高速、高质量的图像。
它配备了自动激光对准功能，使操作更加便捷。
控制器

借助NanoScope V控制器， Dimension Icon可以同时显示和采集多达八幅图像，其信噪比在专为大尺寸样品设计的芯片扫描原子力显微镜中前所未见。这款第五代控制器可同时提供高速数据采集和8通道高像素密度成像 ( 5120 x 5120 )，从而能够在传统原子力显微镜无法企及的时间尺度上记录和分析纳米级芯片-样品相互作用。



软件

NanoScope是我们自主研发的软件，它能够全面控制所有原子力显微镜（AFM）操作，并具有出色的扩展性。用户只需按照步骤操作，即可轻松完成从准备到测量的整个过程，无需任何复杂的步骤。此外，NanoScope分析软件还能无缝执行图像校正、滤波和参数分析，这些功能均针对AFM进行了专门优化。