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货存 BRUKER布鲁克 扫描近场光学显微镜 Anasys nanoIR3-s

该系统具备与 nanoIR3 相同的规格,并新增了散射近场光学显微镜 (s-SNOM) 功能。它能够以 10nm 或更低的空间分辨率进行光学特性成像,是分析石墨烯、二维材料和纳米天线等无机材料的理想解决方案。该系统与原子力显微镜-红外光谱仪 (AFM-IR) 的集成使其应用范围广泛,涵盖有机和无机分析。主要特点
包括:• 除 AFM-IR 外,还具备 s-SNOM 功能
• 提供与 AFM-IR 相同 10nm 分辨率的 s-SNOM 图像
• 适用于无机和半导体应用
  • 详细介绍

纳米级红外光谱系统
原子力显微镜红外光谱系统
期待已久的下一代纳米级红外光谱系统——Dimension IconIR
布鲁克最畅销的原子力显微镜Dimension Icon,无论在国内还是国际市场,都是安装量最高的产品。如今,它终于将布鲁克的多项专有技术(例如PeakForce Tapping技术)与纳米红外光谱技术相结合。除了其成熟的机械和电学性能分析技术外,现在还可以在同一系统上进行纳米级红外光谱分析。

 


地形
力映射
接触
轻敲/快速轻敲
力曲线/力体积
红外光谱
联系原子力显微镜-红外光谱仪
共振增强型原子力显微镜-红外光谱
轻敲原子力显微镜-红外光谱
表面敏感原子力显微镜-红外光谱
热分析
VITA/Nano-TA
扫描热力学
TTM

力学性能评价
PEEForce QNM
相位,摩擦
力谱学
力调节
纳米压痕
力体积
接触共振映射
AFM纳米DMA
纳米光刻与纳米操控
旋转模式
电气特性评估
Liftmode 和 Darklift
EFM
KPFM(AM 和 FM),Peakforce KPFM
C-AFM 和DCUBE-CAFM
TUNA & Peakforce TUNA & DCUBE-TUNA
PFM、DCUBE-PFM、DCUBE-CR-PFM和SS-PFM
供应链管理与DCUBE-SCM
SSRM 和DCUBE-SSRM
sMIM 和Peakforce sMIM和DCUBE-SMIM
MFM 和扭转共振 MFM
除此处列出的型号外,我们还提供其他模式和配件组合。详情请联系我们。
纳米红外光谱和原子力显微镜是两种成熟的技术,它们被集成到一个系统中。
IconIR 的特点
最佳光谱性能与 FTIR 光谱相关
具有 10 nm 空间分辨率的化学成像
表面灵敏度高,甚至可以检测单层薄膜
最先进的形状属性相关显微镜,得益于其独特的 PeakForce 敲击模式。
大型 AFM(空气功能微站)类别中性能最高的平台
多种测量模式和丰富的配件。
布鲁克不断发展的纳米红外技术


应用领域
聚合物材料
薄膜
半导体和电子材料
二维材料与等离子体激元学
其他的
环境科学
药店
太阳能电池
文化遗产

本文网址 : https://www.yamakin-cn.com/product/7862.html

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