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原装 BRUKER布鲁克 兼容全自动白光干涉显微镜 Contour GTX-ARM

用于 300mm 晶圆的全自动白光干涉测量系统:
Contour GT-X ARM

这是一款用于生产管理中全自动测量的光学干涉显微镜 (EFEM) 处理解决方案。它支持尺寸最大为 300 毫米的晶圆,并采用布鲁克专有的白光干涉测量技术提供高通量 3D 参数化。可选配件包括 FFU、离子发生器、单/双装载器和 SECS-GEM。
  • 详细介绍

3D白光干涉仪(表面形貌粗糙度仪/白光干涉仪)

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光学轮廓仪
布鲁克是采用白光干涉技术进行表面几何测量仪器的先驱,可为从精密器件到大型汽车零部件等各种尺寸的样品提供非接触式三维形状测量和分析。最新的Contour系列代表了十代专有技术的集大成者,即使在其他测量仪器难以胜任的环境中,也能提供高精度、高重复性的三维表面测量。
在光学测量仪器的研发领域拥有超过38年的经验。
NCP1000(后更名为TOPO-2D/3D系统)是世界上首款商用系统,一经推出便引起轰动,其后续产品已销往世界各地各个行业。Contour系列正是在此成功经验和技术优势的结晶。


布鲁克白光干涉显微镜拥有业界领先的服务和支持,广泛应用于从研发到制造过程中的质量和过程控制等各个领域。我们根据客户的预算和目标提供量身定制的解决方案,满足汽车/航空航天、高亮度LED、太阳能电池、半导体和医疗器械等市场中高精度加工零件评估的专业应用需求。

本文网址 : https://www.yamakin-cn.com/product/7887.html

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