触针式轮廓测量系统（薄膜厚度步进仪、表面粗糙度仪、表面形状粗糙度仪）
概览 > 功能 >
原理与比较 > 测量和分析示例 > 产品 >
Dektak Pro 唱针分析仪 – 第 11 代唱针分析系统
迈向极致测量性能
布鲁克Dektak Pro触针式轮廓仪以其创新设计而著称，其台阶高度测量重复性优于4 Å。这一重大进步源于Dektak 55余年的技术创新和行业领先地位。Dektak Pro融合了Dektak过去55年来研发的世界领先技术，作为一款测量仪器，它兼具卓越的测量性能、便捷的操作性和极高的性价比，能够满足从研发到质量控制等工艺开发过程中的测量管理需求。Dektak Pro凝聚了11代科学技术突破，可实现纳米级表面形貌测量，这对于微电子、半导体、太阳能电池板、高亮度LED、医疗技术和有机材料科学等领域至关重要。
Dektak XT
产品组
触针式轮廓测量系统（6英寸XY和Θ）
Dektak Pro
大型舞台兼容的触针式轮廓测量系统（12英寸XY和Θ）
Dektak XTL
