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供应 BRUKER布鲁克 InSight AFP大型自动原子力显微镜

InSight AFP AAFM 支持 300mm 晶圆。它不仅可以测量深度,还可以测量侧壁形状,从而在一次扫描中即可获取多种参数,例如顶部/中部/底部 CD、侧壁角 (SWA)、线宽粗糙度/线边缘粗糙度 (LWR/LER) 和侧壁粗糙度 (SWR)。其先进的硬件和测量算法使其能够处理 45nm 或更窄的线宽。此外,由于它不使用激光照射,因此可以对光刻胶进行无损测量,并且采用 NIST 可溯源的 CD/深度标准,使其成为取代 TEM 的新型标准仪器。这是一款突破性的半导体原子力显微镜系统,与任何其他系统都截然不同。
  • 详细介绍

大型自动化原子力显微镜是材料科学、半导体工业和前沿科研中用于纳米级表面形貌与物性分析的关键设备,具备‌高分辨率、大样品兼容性与智能自动化‌等核心优势。目前主流厂商如Bruker、Park Systems和国产致真精密仪器均已推出高度集成的自动化系统,广泛应用于晶圆检测、磁性材料分析及生物样品研究。

1. ‌核心性能与技术特点

  • 高精度成像‌:采用闭环扫描头与温度补偿传感器,实现XY轴埃级(<0.15nm)、Z轴亚埃级(<35pm)的低噪音水平,确保原子级分辨率。
  • 大样品支持‌:样品台直径可达210mm,支持300mm晶圆全自动测量,适用于半导体产线质量控制。
  • 智能自动化功能‌:
    • 自动探针识别与更换(ATX模块)
    • 激光自动对准
    • 多点顺序扫描与记忆定位
    • 可集成FFU风机过滤单元,适配洁净室环境。
本文网址 : https://www.yamakin-cn.com/product/7904.html

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