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原装 BRUKER布鲁克 晶体缺陷可视化装置/ X射线形貌仪  JV QC-TT

布鲁克合资公司QCTT系统是一套综合解决方案,它利用X射线衍射成像(XRDI )技术进行晶体缺陷检测。该技术能够可视化晶圆晶体内部的微小裂纹、滑移和晶体缺陷,并显示它们的位置和尺寸。

与光学技术不同,该方法无需测量前进行蚀刻或抛光等预处理,从而实现无损检测。对于碳化硅衬底,该方法可替代传统的氢氧化钾蚀刻,用于研究晶体缺陷的密度和分布,自动对穿透刃型位错 (TED )、穿透螺型位错 (TSD ) 和基面位错(BPD ) 进行分类,并无损测量缺陷密度。使用自动晶圆搬运机器人(可选),可将检测过程自动化,并集成到测量流程中。
  • 详细介绍

工业X射线测量设备是现代制造业中实现‌高精度、非破坏性质量检测‌的核心工具,广泛应用于电子、新能源、汽车、航空航天等领域。这类设备利用X射线穿透物体,通过探测器捕捉衰减信号,生成内部结构图像,从而识别缺陷、测量尺寸、分析密度分布。


核心功能与技术特点

  1. 缺陷检测

    • 可识别焊接裂纹、气孔、夹渣、未熔合等内部缺陷。
    • 在锂电池制造中,用于检测电芯内部短路、极片错位、异物混入等问题。
    • 半导体领域支持BGA、IGBT、3D封装的焊点完整性验证。
  2. 尺寸与密度测量

    • 支持微米级精度的几何尺寸测量和壁厚分析。
    • 工业CT技术可实现三维重建,用于复杂零件的逆向工程与装配验证。
  3. 智能化与自动化

    • 集成AI算法实现自动缺陷识别(ADR),提升检测效率与一致性。
    • 支持与生产线联动,实现实时剔除不合格品。
本文网址 : https://www.yamakin-cn.com/product/7909.html

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