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日本 BRUKER布鲁克 Sirius RF-T 高速XRR 和 XRF测量系统

布鲁克 Sirius RF-T是 JVX 7300RF-T 的升级版,后者已在全球众多制造实验室中得到应用。它是一款多通道测量平台,结合了微点 X 射线荧光 (XRF)和专利高速微型X 射线反射率 ( XRR)技术。通过与模式识别技术的结合,可以对微型焊盘和划线进行测量。XRF技术利用校准曲线进行薄膜厚度测量和成分分析,可测量从极薄薄膜到厚度达1 μm的薄膜的广泛厚度范围。XRR技术可进行绝对薄膜厚度测量,并且由于其独特的光学系统,每个点的测量仅需几秒钟即可完成。先进的自动稳定机制旨在最大限度地减少用户操作,例如无需重新绘制校准曲线。
  • 详细介绍

工业X射线测量设备是现代制造业中实现‌高精度、非破坏性质量检测‌的核心工具,广泛应用于电子、新能源、汽车、航空航天等领域。这类设备利用X射线穿透物体,通过探测器捕捉衰减信号,生成内部结构图像,从而识别缺陷、测量尺寸、分析密度分布。


核心功能与技术特点

  1. 缺陷检测

    • 可识别焊接裂纹、气孔、夹渣、未熔合等内部缺陷。
    • 在锂电池制造中,用于检测电芯内部短路、极片错位、异物混入等问题。
    • 半导体领域支持BGA、IGBT、3D封装的焊点完整性验证。
  2. 尺寸与密度测量

    • 支持微米级精度的几何尺寸测量和壁厚分析。
    • 工业CT技术可实现三维重建,用于复杂零件的逆向工程与装配验证。
  3. 智能化与自动化

    • 集成AI算法实现自动缺陷识别(ADR),提升检测效率与一致性。
    • 支持与生产线联动,实现实时剔除不合格品。
本文网址 : https://www.yamakin-cn.com/product/7911.html

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